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德國蔡司場發射掃描電子顯微鏡sem用于高品質成像與高級分析。$n靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能$n將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。$nSigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配
