理學波長色散型X射線熒光光譜儀

　　40多年來，Rigaku Simultix同步波長色散X射線熒光(WDXRF)光譜儀系統已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(例如鋼鐵和水泥)過程控制的元素分析工具。近1,000臺Simultix波長色散X射線熒光光譜儀已交付給全球客戶。隨著這些年的技術進步，客戶的要求也變得*和多樣化。理學波長色散型X射線熒光光譜儀Simultix 15專為滿足這些不斷變化的需求而開發。它提供了顯著改進的性能、功能和可用性。緊湊而智能的Simultix 15是一款功能強大的元素分析工具，在許多工業領域都表現出的性能。

　　波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質成分的儀器。它利用X射線與物質相互作用產生的特征性熒光輻射進行分析。以下是該光譜儀的介紹要點：

　　1.基本原理：通過將入射X射線經過晶體衍射分散成不同波長的光線，然后使用探測器測量這些不同波長的熒光輻射強度。每種元素都有其特定的熒光輻射波長，通過測量這些波長可以確定樣品中不同元素的存在及其相對含量。

　　2.儀器組成：典型的波長色散X射線熒光光譜儀包括X射線源、樣品支架、晶體衍射器、探測器和數據處理系統。X射線源產生高能X射線，樣品放置在支架上進行分析，晶體衍射器用于分散入射X射線，而探測器則用于測量熒光輻射強度，并將數據傳輸給數據處理系統進行分析和解釋。

　　3.分析應用：理學波長色散型X射線熒光光譜儀Simultix 15廣泛應用于材料科學、地質學、環境監測、金屬分析等領域。它可以快速、非破壞性地確定樣品中的元素成分，具有高靈敏度和較廣的測量范圍。

　　4.優勢和限制：具有高分辨率、準確性和重現性的優點。然而，它在低濃度元素檢測方面可能受到背景干擾的限制，并且對于非常輕的元素(如氫和鋰)的分析能力相對較弱。

　　總之，波長色散X射線熒光光譜儀是一種重要的分析工具，可用于快速、準確地確定物質中的元素成分，并在許多科學和工業領域發揮作用。

　　XRF用于快速、精確的元素分析

　　分析幾乎任何樣品基質中的鈹(Be)到鈾(U)。自動化過程控制最重要的指標是精密度、準確度和樣品吞吐量。具有多達30個(和可選的40個)離散和優化的元素通道和4kW(或可選的3kW)X射線管功率，可提供的分析速度和靈敏度。結合功能強大但易于使用的軟件，具有廣泛的數據簡化功能和維護功能，該儀器是的元素分析計量工具。

　　自動化的XRF元素分析

　　對于高吞吐量應用程序，自動化是一項基本要求。可配備48位自動進樣器(ASC)。對于全自動化，可選的樣品加載單元提供來自第三方樣品制備自動化系統的右側或左側傳送帶進料。

　　通過同步WDXRF進行元素分析

　　特征

　　合成多層，RX-SERIES

　　新型合成多層晶體“RX85"產生的強度比現有的Be-Ka和B-Ka多層晶體高約30%。

　　XRD通道

　　Simultix 15配備XRD通道，可以通過XRF和XRD進行定量分析。

　　雙曲面水晶

　　可選的雙曲面晶體可以配備到固定通道。與單曲面晶體相比，雙曲面晶體的強度增加。

　　改進的軟件易于使用

　　Simultix 15軟件采用與ZSX軟件相同的定量分析流程條，增強了定量條件設置的可操作性。

　　重型和輕型掃描測角儀

　　可選的寬元素范圍測角儀支持無標樣半定量(FP)，可用于非常規元素的定性或定量測定。

　　微量元素的BG測量

　　固定通道的可選背景測量(BG)，從而改進校準擬合和的精度。

　　自動壓力控制(APC)

　　可選的APC系統在光學室中保持恒定的真空度，以顯著提高輕元素分析精度。

　　定量散射比法

　　當使用康普頓散射比法進行礦石和精礦分析時，可選的定量散射比法生成用于散射比校準的理論alpha。

　　多達40個固定頻道

　　標準的30個固定通道配置，可以選擇升級到40個通道。

　　自動化

　　可選的樣品加載裝置提供來自第三方樣品制備自動化系統的傳送帶進料。